テキサス・インスツルメンツは、米国イリノイ州シカゴで開催中の「Pittcon 2014」で、近赤外線（NIR）光の利用に最適な、初のDLP®デバイスと評価モジュールを発表しました。新製品の『DLP4500NIR』と『DLP NIRscan™』評価モジュールは、数々の受賞実績を持つTIのMEMS 技術であるDLPテクノロジーをさらに発展させ、透過型/反射型分光器市場やその他の用途向けに開発したものです。
http://newscenter-jp.ti.com/index.php?s=20295&item=123531