隠れた物性情報を引き出す新しい電子顕微鏡技術の開発 [物質・材料研究機構]

ダ・ボ (物質・材料研究機構 先端材料解析研究拠点および統合型材料開発・情報基盤部門 情報統合型物質・材料研究拠点 研究員) と吉川英樹 (同機構 表面化学分析グループ グループリーダー) は、田沼繁夫 (同機構 特別研究員) 、塚越一仁 (同機構 国際ナノアーキテクトニクス研究拠点 主任研究者) 、渡辺一之 (東京理科大学 教授) 、丁澤軍 (中国科学技術大学 教授) らを主とする研究グループとの共同研究により、電子ビームを使った顕微鏡において、電子のエネルギーがゼロに近い領域から高エネルギーまでの広いエネルギー範囲でナノ薄膜を一度に計測する新発想の汎用の分光顕微鏡技術を開発し、その有効性を実証しました。
http://www.nims.go.jp/news/press/2017/05/201705260.html

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