製品の外観異常箇所を高精度で検出する画像検査AI技術を開発 [富士通研究所]

株式会社富士通研究所(注1)(以下、富士通研究所)は、製造ラインの検査工程で不良品と判断された製品の異常についての画像を教師データとして準備しなくても、人工的に異常を付加した製品の画像を生成しながらAIモデルを学習させることにより、キズや加工ミスといった外観の多種多様な異常を高精度に検出する画像検査AI技術を開発しました。

https://pr.fujitsu.com/jp/news/2021/03/29.html