半導体結晶を通過するX線が2方向に分岐する現象を発見 [理化学研究所]

理化学研究所(野依良治理事長)は、大型放射光施設「SPring-8」が発するX線をシリコン結晶上にゲルマニウムを蒸着させた試料に照射したところ、結晶中に生じた「格子ひずみ」によってX線が2方向へ分岐し、横すべりを繰り返しながら伝播する現象を初めて観測しました。この成果は、次世代半導体技術や新しいX線軌道制御方法、新たな光学素子の基盤技術の形成に役立つと期待できます。これは、理研放射光科学総合研究センター(石川哲也センター長)放射光イメージング利用システム開発ユニットの香村芳樹ユニットリーダー、XFEL研究開発部門の澤田桂特別研究員、石川哲也センター長と東京大学大学院総合文化研究科 深津晋教授らの共同研究グループによる成果です。

http://www.riken.jp/r-world/research/results/2013/130131/index.html

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