パイオニアは、2013年10月30日（水）～11月1日（金）に東京ビッグサイトで開催される「第6回非破壊評価総合展」に出展します。
非破壊評価総合展は、工場・プラント発電所などの設備、工業製品・材料の検査・評価などに欠かすことのできない非破壊検査・モニター・評価・診断技術に関する専門展示会です。
当社は、月明かり程度の明るさで鮮明な撮影ができる上、優れた耐放射線性により高線量環境での撮像が可能な独自開発の「HEED-HARP撮像板」を用いたX線/中性子線カメラと、光と電波の両方の特性を持つテラヘルツ波を利用し、物体内部の透過イメージングが可能な小型軽量のテラヘルツスキャナーをはじめとするテラヘルツ関連製品を参考展示します。