このたび弊社では「インピーダンス・ＬＣＲ計測セミナー」を開催いたすこととなりました。
各種部品、デバイスの評価・検査に広く利用されております、インピーダンスアナライザ、ＬＣＲ
メータの基礎からアプリケーション事例までご説明させていただきます。
添付のお申込書にご記入の上、メールまたはFAXにてお申し込みください。
皆様の受講申し込みをお待ちいたしております。
なお、ご不明な点がございましたらお問い合わせください。よろしくお願い致します。
http://www.hioki.co.jp/event/event/63/