SEMICON JAPAN2014出展のお知らせ [レーザーテック]

レーザーテックブースでは、フォトマスク欠陥検査装置MATRICSシリーズの最新モデルをはじめ、新製品ウェハ バンプ検査測定装置、透明ウェハ欠陥検査、リソグラフィプロセス検査など、各種検査測定装置をご紹介します。また、ハイブリッドレーザーマイクロスコープを実機展示いたします。
ぜひ当社ブースにお立ち寄りください。

http://www.lasertec.co.jp/event_jp2014/semicon.html

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