米国国立標準技術研究所(NIST)の指紋認証技術 ベンチマークテストにおいて第1位の評価を獲得 [NEC]

NECは、米国国立標準技術研究所（以下NIST、注1）が実施した、指紋認証技術のベンチマークテスト（以下、FpVTE2012、注2）において、当社の指紋認証技術が第1位の照合精度を有するとの評価を獲得しました。（注3）

http://jpn.nec.com/press/201503/20150306_01.html