トランジスタの絶縁膜欠陥に起因するノイズを利用した新たなチップ個体認証技術を開発 [東芝]

当社は、IoT(Internet of Things)機器のセキュリティ技術「physical unclonable function(以下、PUF)」において、トランジスタの絶縁膜欠陥に起因した「ランダムテレグラフノイズ(以下、RTN)」を利用した新技術を開発しました。

http://www.toshiba.co.jp/rdc/detail/1506_03.htm

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