パイオニアは、2015年7月22日（水）～7月24日（金）に東京ビッグサイトで開催される「非破壊評価総合展」に出展します。
同展は、工業製品の検査・評価から橋梁、道路、電力設備などの社会インフラに欠かすことのできない非破壊検査・モニター・評価・診断技術に焦点を当てた展示会です。
当社は、光と電波の両方の特性を持つテラヘルツ波を利用し、物体内部の透過イメージングが可能なポータブルタイプの“ハンディヘッド型テラヘルツスキャナー”や新形態の“一体型テラヘルツスキャナー”などのテラヘルツ関連製品をはじめ、簡単に分光イメージングが可能な小型の“ハイパースペクトルカメラ”、目視検査用照明として最適な“有機EL照明”などを参考展示します。