理化学研究所（理研）創発物性科学研究センター強相関物性研究グループの吉見龍太郎研修生（東京大学大学院工学系研究科博士課程）、安田憲司研修生（同研究科修士課程）、十倉好紀グループディレクター（同研究科教授）、強相関界面研究グループの川﨑雅司グループディレクター（同研究科教授）、東北大学金属材料研究所の塚﨑敦教授らの共同研究グループ※は、新物質のトポロジカル絶縁体[1]「(Bi1-xSbx)2Te3」薄膜上に磁性元素のクロム(Cr)を添加した層を積層させることで、エネルギー損失が極めて小さい電流が流れる「整数量子ホール効果[2]」を従来より高温・弱磁場で実現し、トポロジカル絶縁体の表面ワイル状態[3]の制御に向けた新しい設計指針として有効であることを実証しました。