酸化ハフニウム基強誘電体の基礎特性を解明 [物質・材料研究機構]

東京工業大学と東北大学、物質・材料研究機構の研究グループは、スマホやパソコンのトランジスタに使われている酸化ハフニウムを基本組成とした、強誘電体の電源を切った時に貯められる電気の量や、使用可能な温度範囲といった基礎特性を解明した。

http://www.nims.go.jp/news/press/2016/09/20160908.html