当社はこのほど、高周波回路の検査用として、超低背スイッチ付同軸コネクタ「TS-Xシリーズ」を開発しました。
近年、ウェアラブル端末や IoTなどの通信機能を持つ機器の増加により検査用コネクタの需要が高まっております。
また、セットの薄型化・小型化にともない使用されるコネクタにも薄型化・小型化が求められております。
本製品は、業界最小クラスのサイズ（基板高さ0.58mm、奥行き 1.78mm、幅1.48mm）を実現しており、セット内の省スペース化へ貢献いたします。周波数帯域は11GHzまでカバーしているため高整合で良好な高周波特性を有しています。
適合検査用プラグは評価・開発等で使用しやすい自立嵌合タイプと量産における自動検査に適したプローブタイプの2種類を準備しております。