東京大学大学院工学系研究科の樽茶教授（理化学研究所創発物性科学研究センター量子情報エレクトロニクス部門部門長）、山本特任准教授（理化学研究所創発物性科学研究センター量子電子デバイス研究ユニットユニットリーダー）と産業技術総合研究所物理計測標準研究部門の高田研究員らは仏ネール研究所のボイヤレ博士らと共同で、電子波の位相のずれを精密かつ信頼性高く測定できる独自の二経路干渉計を用いて、多電子の人工原子でも位相のずれが軌道の形を反映することを世界で初めて明らかにしました。
http://www.aist.go.jp/aist_j/press_release/pr2017/pr20171124/pr20171124.html