教師なしで複雑な画像の特徴を学習してグループ化する画像分類AIを開発 [東芝]

当社は、製造現場における外観検査による不良検知向けに、教師なし(分類基準のラベルづけ作業なし)で高精度に画像をグループ化する画像分類AIを開発しました。独自の深層学習技術により、様々な背景の中で撮影された一般画像の公開データ(*1)において、分類精度を従来技術(*2)の71.0%から95.4%に向上し、世界トップレベルの分類精度を達成しました。本技術を用いることで、製造現場で撮影される外観画像において、例えば、検査対象以外の物が背景に映りこんでいるような複雑な画像でも、製品の不良や欠陥を教師なしで高精度に分類することが可能です。

https://www.global.toshiba/jp/technology/corporate/rdc/rd/topics/21/2104-01.html