理化学研究所（理研）放射光科学総合研究センター米倉生体機構研究室の高山裕貴基礎科学特別研究員と米倉功治准主任研究員らの研究チームは、X線自由電子レーザー（XFEL）[1]を光源とするコヒーレントX線回折イメージング（XFEL-CXDI）法[2]での生体試料観察に、光・電子相関顕微鏡法[3]を相互補完的に利用することで、観察の効率化と信頼度の向上を実現しました。さらに、研究チームが2015年に提案したイメージング法注1）により、高分解能かつ高信頼度の像の取得が可能なことを実証しました。
理化学研究所（理研）放射光科学総合研究センター米倉生体機構研究室の高山裕貴基礎科学特別研究員と米倉功治准主任研究員らの研究チームは、X線自由電子レーザー（XFEL）[1]を光源とするコヒーレントX線回折イメージング（XFEL-CXDI）法[2]での生体試料観察に、光・電子相関顕微鏡法[3]を相互補完的に利用することで、観察の効率化と信頼度の向上を実現しました。さらに、研究チームが2015年に提案したイメージング法注1）により、高分解能かつ高信頼度の像の取得が可能なことを実証しました。