東京大学 大学院工学系研究科 附属総合研究機構の柴田 直哉 准教授、松元 隆夫 特任研究員らの研究グループは、走査型透過電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）注１）法と独自開発の分割型検出器注２）を用いることにより、磁気スキルミオン注３）内部の磁場をリアルタイムで可視化することに初めて成功しました。これにより、材料中の局所磁場の直接観察が容易になり、ナノレベルの磁気構造解析に新しい展開が期待されます。
http://www.jst.go.jp/pr/announce/20160213/index.html
東京大学 大学院工学系研究科 附属総合研究機構の柴田 直哉 准教授、松元 隆夫 特任研究員らの研究グループは、走査型透過電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）注１）法と独自開発の分割型検出器注２）を用いることにより、磁気スキルミオン注３）内部の磁場をリアルタイムで可視化することに初めて成功しました。これにより、材料中の局所磁場の直接観察が容易になり、ナノレベルの磁気構造解析に新しい展開が期待されます。
http://www.jst.go.jp/pr/announce/20160213/index.html