米国のジョン・F・ケネディ国際空港に入国審査用の顔認証システムを納入 [日本電気]

NECは、米国を代表する大規模空港であるジョン・F・ケネディ国際空港(所在地:ニューヨーク、以下JFK空港)に、入国審査用の顔認証システムを納入しました。本システムは、現地のシステムインテグレータであるUnisys社を通じて提供したものであり、既に稼働を開始しています。

米国では、セキュリティの向上とスムーズな入国審査の実現を目的として、国土安全保障省 税関・国境取締局(CBP)が全米の国際空港における出入国管理を強化しており、本プロジェクトはその活動の一環です。

http://jpn.nec.com/press/201606/20160613_03.html

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