ＪＳＴ 戦略的創造研究推進事業の一環として、東京工業大学の岩崎 孝之 助教と波多野 睦子 教授、産業技術総合研究所 先進パワーエレクトロニクス研究センター 牧野 俊晴 研究チーム長らのグループは、ダイヤモンドパワーデバイス注１）内部に原子レベルの構造である窒素－空孔（ＮＶ）センター注２）を形成し、高電圧動作中のパワーデバイス内部の電界強度を定量的にナノメートルスケールで計測することに世界で初めて成功しました。
ＪＳＴ 戦略的創造研究推進事業の一環として、東京工業大学の岩崎 孝之 助教と波多野 睦子 教授、産業技術総合研究所 先進パワーエレクトロニクス研究センター 牧野 俊晴 研究チーム長らのグループは、ダイヤモンドパワーデバイス注１）内部に原子レベルの構造である窒素－空孔（ＮＶ）センター注２）を形成し、高電圧動作中のパワーデバイス内部の電界強度を定量的にナノメートルスケールで計測することに世界で初めて成功しました。