インフラ点検向けに数枚の正常画像から 異常個所を世界最高精度で検出するAIを開発 [東芝]

当社は、インフラ点検向けに、現場での学習が不要で、点検個所の正常画像を数枚用意するだけでひび・さびのほか、水漏れや異物の付着、部品の脱落などの発生頻度が低く未学習の異常も高精度に検出するAIを開発しました。

https://www.global.toshiba/jp/technology/corporate/rdc/rd/topics/22/2205-01.html